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塞貝克系數/電阻測量系統

         華測塞貝克系數/電阻測量系統HCRW-3系列可同時測量的Seebeck系數和電導率, 本系統基于國內外學術界和客戶的要求,采用方便、高精度的測量技術。

       符合熱電材料的塞貝克系數測量設備JIS標準設計研發,關鍵部件采用元器件。

        本儀器采用高溫聚焦原理開發的高溫爐可實現10秒極速加熱MAX至1800度。為國際加熱速度較快的高溫加熱方式。

    
  
     
 
極速加熱,技術可靠

   目前在實驗室對試樣加熱可分為兩種方式:非接觸式與接觸式?非接觸式如電阻加熱、感應加 熱、紅外線加熱等,接觸式如電阻電流加熱、燃燒加熱等?在這些加熱方式中,熱的傳播依靠的是傳導、對流和輻射等?要充分利用這些傳熱方式,提高熱能利用率,達到節能和增效的目的? 如果要求快速加熱,則主要是采用非接觸式加熱如感應加熱和紅外線加熱?感應加熱能夠進行急速加熱,工作環境良好,并且溫度易于調節,但存在加熱區域不均勻,耗電量大,投資高,附屬控制裝置復雜等缺點?而紅外線加熱已成功應用于紅外測溫系統、紅外成像系統、紅外分析系統等方面,尤其在紅外線加熱與干燥領域如新材料檢測、,都有很多紅外線加熱應用的實例 。它的特點是加熱速度快、效率高、耗能低、工件受熱均勻和爐溫穩定度高?經過嚴酷的實踐驗證,穩定可靠,目前已經廣泛應用于生產企業、高等院校、科研部門

 

 


應用廣泛  操作方便

 主要應用于評估各種材料的熱電性能,包括半導體、陶瓷和金屬,符合標準:熱電JIS R 1650-1 電阻率JIS R 1650-2
 

型號 HCRW-3L HCRW-3M8 HCRW-3M10
測量性能   Seebeck系數、電阻率、
溫度范圍 -80 °C to 100 °C RT, 50 °C to 800 °C RT, 50 °C to 1000 °C
樣品大小  2 to 4 mm square or φ x 5 to 22 mm length
測量環境 常溫、高溫、真空、氣氛
選 配

水冷
氣氛
真空

1、采用恒流源技術,達到熱電材料測試標準技術??梢詼蚀_測試大電阻熱電體系。

* 獨立商用恒流源,非電路板集成恒流源,避免無法精準輸出小電流;

* 獨立恒流源系統:0.000-220mA;恒流設置分辨率:100nA;恒流穩定性:0.008+20nA/天

 

2、升級了控制系統, 實行熱電材料在測試過程中, 每個溫度點自動掃描電流, 智能輸出合適的電流, 避免了在不同溫度下恒定電流輸出測試電導率帶來的誤差。

 

3、V-I曲線自動掃描,采用正負全程掃描技術,自動計算相關系統R-square數值,更加精準判定樣品的接觸狀態。

 

4、升級了軟件部分功能, 可以提供多種語言的版本選擇。

 

通過對用戶的多種樣品的對照試驗, 測試數據顯示CTA性能完全達到目前較高水準的測試精度和重復性。

 

技術優勢:

 

·    數據采集系統、直流電壓/電流源和溫度控制調節器(爐體)可以協同或獨立使用,擴展使用功能。

·    可控溫場下可同步測量賽貝克系數和電阻率

·    標準配置吉時利數采儀表,避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差

·    提供獨立商用恒流源,非電路板集成恒流源,避免無法精準輸出小電流;

·    獨立恒流源系統:0.000-220mA;恒流設置分辨率:100nA;恒流穩定性:0.008+20nA/天

·    溫度范圍:RT up to 1150℃;光波爐加熱技術,潔凈加熱不污染樣品

·    控溫速率:0.01 –100K/min,可以節約用戶測試時間

·    配置垂直放樣結構,上下樣品支架夾持(三明治),控制溫度差

·    測量范圍:賽貝克系數:0.5μV/K-25V/K;電阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm

·    0-80K溫差范圍可任意設置溫差值及溫差點的個數

·    U-I曲線自動掃描,計算出合適的電流數值, 可以測量電導率;不會對大電阻樣品產生誤差

·    鉑金大電極設計,和樣品可充分接觸,對于不均勻樣品也可獲得良好的導電測試

·    熱電偶間距可以根據樣品尺寸調節后固定,滿足不同科研要求

·    精度:賽貝克系數:±7 %;電導系數:±10 %(熱電材料測試,非康銅標樣)

·    高級應用程序控溫技術,包括溫差和測量步進等高級要求

·    自由升/降溫、可控制溫度程序,進行升溫、恒溫與降溫過程中的數據測量   

·    熱電偶探針可選K、S、R型(無需鎧裝)配置,不會產生非常大的接觸電阻

·    自動壓力保護設計,確保測試過程中不會發生爆炸

·    測量系統:柱狀、片狀、長方體、薄膜等系統


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