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高溫四探針測試儀

高溫四探針測試儀采用直排四探針法設計原理測量。主要用于評估半導體薄膜和薄片的導電性能,參考美國 A.S.T.M 標準設計。重復性與穩定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數的精確度,同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

搭配Labview系統開發的Huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置,符合功能材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全;資料保存機制,當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數據,設備重新啟動后可恢復原有試驗數據。

源測量儀器的精密耦合特點相對分立儀器具有許多優點。例如,它具有更短的測試時間,通過減少GPIB的流量并簡化了遠程編程接口。它還保護被測設備在偶爾過載、熱失控等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設置回讀使器件測量完整性最大化。如果回讀 達到可編程容限的極限,那么該源就被鉗位在此極限,從而提供錯誤保護。

    設備優勢

  • 高速加熱與冷卻方式

    高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統,增設氣體冷卻裝置,可實現快速冷卻。

    溫度高精度控制

    近紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以精確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。

    不同環境下的加熱與冷卻

    加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫(高純度惰性氣體 靜態或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

設備測量參數

  • 溫度范圍: RT-800 (最高1650)°C

    控溫精度:±0.25°C

    升溫斜率:10°C/min(可設定)

    測試范圍 : 0.1mΩ-100MΩ

    加熱方式:近紅外加熱

    冷卻方式:水冷

    輸入電壓:110~220V

    樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm

    電極材料:碳化鎢針

    夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷

    測量方式:直接四探針

    測試功能:I-V、R-T等

    數據傳輸:4個USB接口

    設備尺寸:600x500x350mm

動態測量范圍:電流:10pA to 10A;電壓:1μV to 200V;四象限工作 :0.012%的精確度,5?的分辨率 ;可程控電流驅動和電壓測量鉗位的 6位線電阻測量 ;在4?數位時通過GPIB達1700讀數/秒 ;可選式接觸檢查功能 。
華測近紅外高溫爐配合吉時利數字源表進行四探針電阻測量,讓測試更加穩定可靠,吉時利數字源表系列專用于要求緊密結合源和測量 的測試應用。全部數字源表型號都提供精密電壓源和電 流源以及測量功能。每款數字源表既是高度穩定的直流 電源也是真儀器級的6位半萬用表。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復性高和低噪聲。最終形成了緊湊、單通道、直流參數測試儀。 在工作時,這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表。源和阱(4象限)工作,0.012%基礎測量精度(6位半分辨率)。 2線、4線電壓源和測量感測1700讀數/秒(4位半分辨率),通過GPIB通過/失效比較器用于快速提供高速感測線接觸檢查功能,在半導體、功能材料行業吉時利數字源表是適于特性析和生產測試等廣泛應用的重要源表。
阻抗分析儀測量&高溫爐基本參數


說明:更詳細資料請翻閱阻抗分析儀詳細說明書,其它相關參數請聯系銷售工程師 。

更強大的操作軟件
測試系統的軟件平臺 Huacepro ,采用labview系統開發,符合功能材料的各項測試需求,具備強大的穩定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復。支持最新的國際標準,兼容XP、win7、win10系統。
█ 多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
█ 即時監控:系統測試狀態即時瀏覽,無須等待;
█ 圖例管理:通過軟件中的狀態圖示,一目了然,立即對狀態說明,了解測試狀態;
█ 使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;
█ 故障狀態:軟件具有設備的故障報警功能。
█ 試驗報告:自定義報表格式,一鍵打印試驗報告,可導出EXCEL、PDF格式報表。
不一樣的加溫方式及更多的應用場景


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